畫像處理檢查・計測
Close
menu
繁體
日文
公司介紹
關於我們
事業範圍
人才招募
FPD
高精細外觀檢査裝置（AOI）
Mura檢査/膜厚測量装置
FILM
素面高速細微影像檢查裝置 Hawkeyes one
素面Film檢查系統 Hawkeyes ELITE
Pattern Film檢查系統Hawkeyes PATTERN
Camera畫像處理一體型Non-PatternFilm檢查系統 Hawkeyes Lite
Non Pattern 膜面用AI 缺陷分類系統 TAKANO AI
TAKANOAI
Non Pattern 膜面用AI 缺陷分類系統 TAKANO AI
半導體
晶圓表面檢查裝置 (WM series)
TSV・溝道高速深度量測
晶圓外觀檢查裝置 (Vi series)
BUMP高度量測裝置（ALTAX）
步進式曝光裝置
電子零組件晶圓檢查裝置 (VC series)
聯絡我們
Close
Go to 台灣鷹野股份有限公司
關於我們
事業範圍
人才招募
HOME
製品紹介
UV レーザ加工機
PRODUCT
Product
FILM
素面高速細微影像檢查裝置 Hawkeyes one
素面Film檢查系統 Hawkeyes ELITE
Pattern Film檢查系統Hawkeyes PATTERN
Camera畫像處理一體型Non-PatternFilm檢查系統 Hawkeyes Lite
Non Pattern 膜面用AI 缺陷分類系統 TAKANO AI
FPD
Mura檢査/膜厚測量装置
高精細外觀檢査裝置（AOI）
TAKANOAI
Non Pattern 膜面用AI 缺陷分類系統 TAKANO AI
半導體
晶圓表面檢查裝置 (WM series)
步進式曝光裝置
TSV・溝道高速深度量測
BUMP高度量測裝置（ALTAX）
電子零組件晶圓檢查裝置 (VC series)
晶圓外觀檢查裝置 (Vi series)
UV レーザ加工機
