台湾鷹野股份有限公司
すべての装置はカスタマイズで生産しています。
ニーズに対するヒアリングとその情報の分析、提案の繰り返しが装置の機能を高め、
かつ生産プロセスに求められるシステムを生み出します。
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AOI
高精細外観検査装置
高分解能レンズを備えたラインセンサカメラと最適な光学系の組合せで取り込まれた画像データは、弊社独自の画像処理装置により高速処理され、リアルタイムに基板の状態を把握することが可能です。
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無地高速微細画像検査装置
Hawkeyes one
自社製カメラ採用により高速な生産ラインでの微細欠陥を検出するための高分解能の設定を可能にしました。
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ウェーハ表面検査装置 (WM series)
Non-patterned 300mm Wafer surface Inspection system
WM – 10 is a standard model of 300 mm wafer.
