素面高速細微影像檢查裝置 Hawkeyes one
優點
- 對應高速生產線
通過採用本公司開發生產的相機，實現設定高解析度檢測高速生產線的微細缺陷。
產線速度 檢出尺寸
50m/min 4.0um
100m/min 8.0um
200m/min 16.0um
※對於LineSpeed設定解析度流動方向記載
- 多個處理並行化，可以進行多種檢測
新開發的圖像處理機構可對應多樣化缺陷。
- 人性化界面應用
重視閱覽性和操作性，提高運用效率。
 MAIN畫面 |
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 Recipe畫面 |  System設定畫面 |
即時高速檢查×AI可以簡單地進行高精度的缺陷分類
使用本公司開發製造的相機能取得鮮明的影像實現高精度的判別，對檢測出的缺陷影像進行即時自動缺陷分類。
此為使用Takano Camera取得之畫像
進行AI缺陷分類
規格
檢查對象
Hole缺陷：Court脫落、Pin Hole
條紋缺陷：塗布條紋、皺褶、滾筒痕等
凹凸缺陷：異物、傷痕、氣泡等
不均勻缺陷：塗佈不均勻、撞痕等
用途
- 陶瓷電容器（Green sheet）
- 電池材料（分離器、金屬箔）
- 光學薄膜
- 電子部件（PI、各種金屬箔、感光劑、樹脂薄膜）
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